UV 光测量 - 迎接挑战

紫外光 (UV) 辐射是一种无形的电磁辐射,波长非常短,介于200 nm和400 nm之间。相关的UV光谱范围通常被划分为三个波段:UVA (315-400 nm), UVB (280-315 nm) 和 UVC (200-280 nm)。根据其特点,如杀菌效果和光解作用,紫外线辐射广泛应用于空气和水的净化、工业和美容养护、表面检查以及室内园艺。

过去十年间,UV LED逐步成为传统UV光源的一种极具吸引力的替代选择。它们是小型场所内符合成本效益的节能设备。这些优势扩大了新的应用范围,并获得了更大的用户群体 - 甚至包括消费者市场,如水净化。   

UV LED的研发及生产非常具有挑战性。尤其是UV-B和UV-C,光谱范围非常窄。基于减少发射波长,从而减少光输出功率,该挑战愈发显著。因此,相应的光学测量设备对灵敏度和精准度的要求非常高。

Instrument Systems为从200 nm开始的UV-A, -B 和 -C辐射提供了完整的高质量和高性能解决方案。该设备的组件包括:

  • 经验证的Instrument Systems光谱仪
  • 针对高UV通量的PTFE积分球
  • 自吸收校正辅助灯
  • 以及其他测量适配器和配件

这些测量解决方案及其组件专门设计用于实验室和生产环境中高灵敏度、高精准度和高稳定性的UV光谱测量。

除了这些硬件组件,Instrument Systems提供了高级专业技术和方法,以进一步提升测量性能。PTB可追踪校准以及可选的最先进杂散光矫正,在UV光谱范围内的高精度和可靠性方面为我们的客户提供了额外价值。

我们的UV LED测量解决方案包括一系列设备和配件:

Icon Pfeil  PTFE积分球用于确定UV辐射通量

Icon Pfeil  光谱仪具有PTB可追踪校准

Icon Pfeil  最先进的杂散光矫正,用于有效的杂散光抑制

Icon Pfeil  测试夹具用于LED的快速插入和更换

Icon Pfeil  辅助光源用于自吸收校正 

Icon Pfeil 实验室软件套件以及指令库优化(DLL)用于生产应用

杂散光校正对UV 光测量的关键影响

由于阵列式光谱仪的检测器在UV及IR范围仅具有低灵敏度,所以在该光谱范围进行杂散光校正对校准光源的影响特别明显。通过参考光谱和测量光谱之间的比率来推算测量数据时,由杂散光引起的误差也会增强。因此,杂散光校正可确保更高精度的UV LED辐射值测量结果。