DTS140 NVIS - MIL-L-85762A / MIL-STD-3009 规范下的新测量标尺

DTS140 NVIS 建立在全球销量极高的阵列式光谱仪 CAS 140CT / CAS 140D 基础之上用于按照 MIL-L-85762A 以及 MIL-STD-3009 规范测量显示器和仪表板。其光辐射的连接通过成像光学探头 TOP 200 完成。

DTS 140 NVIS 构造结实,非常适合既要求长时间运转又要求操作简单的生产线应用和质量检查。此外,使用 SpecWin Pro 软件的 Pass/Fail (成功/失败)测试功能还可以进行自动测量。

特征:

  • MIL-L-85762A / MIL-STD-3009 规范的要求更胜一筹

  • 调整了的 Pritchard 镜头使测量点定位万无一失

  • 集成的大视野取景器相机

  • 光圈和密度滤光片可通过软件选择

  • 新的 SpecWin Pro 软件使测量值的分析计算和文件汇编更舒适简单

DTS140-235 NVIS 技术参数:

DTS140-235
光谱范围380 - 1040 nm
波长精度+/- 0,5 nm
杂散光(用于 LED 产品)5*10E-5
PC 接口USB 2.0,PCI 连接卡 (可选)
轮式密度滤光片OD1 到 OD4
偏振敏感度 < 0,4 %
HRL90 镜头下测量点大小0,075 / 0,15 / 0,3 / 0,5 mm

DTS140 NVIS 的构造工艺

NVIS 测量,在可视光谱范围380 780 nm 和近红外线光谱范围 650 930 nmNVG 夜视仪器的敏感区域)内正确地采集极高的强度差别极其重要。因此Instrument Systems 修改了CAS 140系列 使光谱仪内杂散光更少,使测量敏感性自动适应不同的强度信号.