显示屏测量系统和配件

Instrument Systems 自主研发了多套用于显示器性能检测和测试的测量系统。这些测量系统分别建立在光谱仪 CAS 140 CT / CAS 140D 和成像光学探头 TOP 200 基础之上。

每套系统都有其特定的使用范围,提供精确而可靠的测量结果:

型号光谱仪类型使用范围
DTS140CAS140 CT / CAS 140D 配阵列 CCD用于所有显示器测量和仪表面板测量
DTS140 NVISCAS140 CT / CAS 140D 配阵列 CCD用于按照 MIL-L-85762A 测量显示器夜视兼容性 NVIS

配件

类型使用范围
DTS400手动定位器用于待测物和测量仪的手动定位
DTS500自动定位系统配有步进马达控制装置的完整 5 轴定位系统

所有分光辐射谱仪均可同 5 轴定位系统 DTS 500 XYZ 定位器 DTS 400 一同使用,来全自动测量譬如显示器的与角度相关的特征或均匀性等。

作为光辐射连接装置的成像光学探头 TOP 200 和装有专利混合器的光纤的优点如下:

TOP 200 配有有不同的镜头。它们使用插刀式卡口,更换极为简单。而且,通过镜头的更换,可以在测量中变换不同的测量点大小以及测量仪器与显示器之间的距离。

除分光辐射测量系统以外, 图像亮度和色度测量仪 LumiCam 系列也可用于所有显示屏和显示系统的测量。